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缺陷生命周期控制方法-在软件测试管理系统i-Test 2.0中的运用

发布: 2009-2-20 10:33 | 作者: 不详 | 来源: 测试时代采编 | 查看: 132次 | 进入软件测试论坛讨论

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关键字:软件缺陷软件测试

        世间万物都有着自己的生命历程,软件缺陷也是一样。在软件测试过程中每发现一个软件缺陷,就标志着它的“诞生”。一个软件缺陷从它产生到终结的过程,我们称之为缺陷生命周期。软件测试管理的一个核心内容就是对软件缺陷生命周期进行管理。软件缺陷生命周期控制方法是在软件缺陷生命周期内设置几种状态,测试员、程序员、管理者从每一个缺陷产生开始,通过对这几种状态的控制和转换,管理缺陷的整个生命历程,直至它走入终结状态。
        缺陷生命周期控制方法已在西方IT企业的软件测试管理中运用多年,而在我国一些软件企业还鲜为人知。中科软件股份有限公司开发软件测试管理系统i-Test 2.0(以下简称i-Test)引进了这种方法,结合Internet网和数据库的使用,实现了缺陷生命周期控制和管理。
        缺陷生命状态的定义:
        i-Test对于每一个软件缺陷都规定了6个生命状态:Open、Working、Verify、Cancel、Close、Defer,它们的基本定义是:
        Open态---缺陷初试状态,软件测试员报告一个缺陷,缺陷生命周期开始;

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文章来源于领测软件测试网 https://www.ltesting.net/

TAG: 控制方法 缺陷 软件测试 生命周期 系统

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